植松 裕 | 株式会社日立製作所中央研究所

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概要

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関連著者

• 植松 裕

  株式会社日立製作所中央研究所

• 大坂 英樹

  株式会社日立製作所中央研究所

• 大坂 英樹

  日立製作所

• 植松 裕

  株式会社日立製作所生産技術研究所

• 大坂 英樹

  株式会社日立製作所生産技術研究所

• 大坂 英樹

  株式会社日立製作所 生産技術研究所

• 西尾 洋二

  エルピーダメモリ株式会社

• 波多野 進

  エルピーダメモリ株式会社

• 齊藤 達也

  (株)日立製作所中央研究所

• 齋藤 達也

  (株)日立製作所中央研究所

• 柳生 正義

  (株)日立製作所中央研究所

• 鈴木 英一

  株式会社日立製作所中央研究所

• 柳生 正義

  株式会社日立製作所中央研究所

• 齊藤 達也

  株式会社日立製作所中央研究所

• 鈴木 英一

  (株)日立製作所中央研究所

• 斎藤 達也

  日立中研

• 齋藤 達也

  (株)日立製作所 中央研究所

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著作論文

• 実メモリモジュールを模擬したテスト基板におけるDDR2-SDRAMのVrefノイズ許容値の測定手法(チップ・パッケージ・ボードにおけるパワーインテグリティの設計評価,LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術、テスト技術、一般)
• 遅延観測方式によるチップ内電源ノイズの観測(EMC一般)
• 実メモリモジュールを模擬したテスト基板におけるDDR2-SDRAMのVrefノイズ許容値の測定手法(チップ・パッケージ・ボードにおけるパワーインテグリティの設計評価,LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術、テスト技術、一般)

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