波多野 進 | エルピーダメモリ株式会社
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概要
関連著者
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植松 裕
株式会社日立製作所中央研究所
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大坂 英樹
株式会社日立製作所中央研究所
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西尾 洋二
エルピーダメモリ株式会社
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波多野 進
エルピーダメモリ株式会社
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大坂 英樹
日立製作所
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植松 裕
株式会社日立製作所生産技術研究所
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大坂 英樹
株式会社日立製作所生産技術研究所
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大坂 英樹
株式会社日立製作所 生産技術研究所
著作論文
- 実メモリモジュールを模擬したテスト基板におけるDDR2-SDRAMのVrefノイズ許容値の測定手法(チップ・パッケージ・ボードにおけるパワーインテグリティの設計評価,LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術、テスト技術、一般)
- 実メモリモジュールを模擬したテスト基板におけるDDR2-SDRAMのVrefノイズ許容値の測定手法(チップ・パッケージ・ボードにおけるパワーインテグリティの設計評価,LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術、テスト技術、一般)