セラミック基板上に直接フリップチップ接合された白色LED光源の信頼性評価法
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概要
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We have recently fabricated high-power near-ultraviolet light-emitting diodes (LED) on ceramic packages without sub-mounts, using a direct flip-chip bonding (DFCB) technique. In the ceramic packages, pad electrodes of 0.35mm LED chips were bonded onto metalized packages using metal stud bumps. The cross-sectional microstructures of the chip/bump/ceramic of both non-degraded and degraded DFCB packages were investigated using a scanning electron microscope with energy dispersive x-ray spectroscopy. We have confirmed the presence of firm flip-chip interfaces between the stud bumps and the DFCB packages, and failure at the p-type contact layer/p-electrode interface. In addition, x-ray computed tomography (CT) and ultrasonic scanning were carried out as non-destructive inspection methods. The clacks at the interfaces of the DFCB package could be detected by ultrasonic scanning inspection, but not by x-ray CT, due to the lack of resolution.
- 社団法人エレクトロニクス実装学会の論文
- 2009-01-01
著者
-
田口 常正
山口大学大学院理工学研究科
-
福井 剛
山口大学大学院理工学研究科
-
内田 裕士
山口大学工学部
-
倉井 聡
山口大学大学院理工学研究科
-
藤井 智
山口大学大学院理工学研究科
-
倉井 聡
山口大学工学部
-
田口 常正
山口大学大学院
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