4ポート回路Sパラメータの片側2ポート測定法(若手研究者発表会)
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概要
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回路特性を調べる手法の1つとしてベクトルネットワークアナライザを用いてSパラメータを測定する手法がある。高密度実装された回路基板においては、等電位とみなせるようなグラウンドを用意することは困難であるため、等電位であるグラウンドを必要としない測定法として4ポート回路に対し有効である片側2ポート測定法を検討した。片側2ポート測定法とは、片側2ポートの終端条件を開放、短絡、整合と変化させ、その度に反対側の2ポートからSパラメータを測定し、得られた測定結果を組み合わせることで、4ポート全体のSパラメータを得るという方法である。この測定法では2通りの計算式が導出されるが,終端条件の影響が見られるように適切に使う式を選ぶことで,終端条件側2ポート間の透過係数以外は精度良く測定出来ることが分かった.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2008-07-10
著者
-
パオレッティ ウンベルト
京都大学大学院工学研究科電気工学専攻
-
久門 尚史
京都大学大学院工学研究科電気工学専攻
-
和田 修己
京都大学大学院工学研究科電気工学専攻
-
和田 修己
京都大学大学院工学研究科
-
Paoletti Umberto
京都大学大学院工学研究科
-
松田 昂
京都大学大学院工学研究科
-
久門 尚史
京都大学
-
久門 尚史
京都大学大学院工学研究科
-
和田 修己
京都大学大学院工学研究科・電気工学
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