617 はんだリフロー時における電子デバイス実装部の信頼性評価(はんだ,OS01 電子デバイス・電子材料と計算力学)
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概要
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- 社団法人日本機械学会の論文
- 2006-11-02
著者
-
宮崎 則幸
京大工
-
池田 徹
京大
-
宮崎 則幸
京大
-
田中 宏之
住友ベークライト(株)
-
田中 宏之
住友ベークライト生産技術研究所
-
濱田 学
京大院
-
沼田 孝
住友ベークライト
-
田中 宏之
住友ベークライト
-
Miyazaki Noriyuki
Tokyo Metropolitan Industrial Technology Research Institute Komazawa Office
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