CS-4-4 インナーストライプ型青紫色半導体レーザの高信頼動作(CS-4.窒化物/ワイドバンドギャップ光半導体とその応用の新展開,シンポジウム)
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概要
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- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2007-03-07
著者
-
大矢 昌輝
Nec システムデバイス研究所
-
赤川 武志
日本電気株式会社ナノエレクトロニクス研究所
-
山田 みつき
日本電気株式会社システムデバイス研究所
-
山田 みつき
Nec システムデバイス研究所
-
難波江 宏一
NEC システムデバイス研究所
-
福田 和久
NEC システムデバイス研究所
-
河本 滋
NEC システムデバイス研究所
-
増本 一郎
NEC システムデバイス研究所
-
赤川 武志
NEC システムデバイス研究所
-
松舘 政茂
NEC システムデバイス研究所
-
次田 拓実
NEC システムデバイス研究所
-
笹岡 千秋
NEC システムデバイス研究所
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