Nb/AlO_x/Nb接合の特性電圧の評価
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概要
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ジョセフソン接合の臨界電流I_cと常伝導状態抵抗R_nの積として定義される特性電圧V_c(= I_cR_n)は、エレクトロニクス応用およびデバイス物理の両面で重要なパラメータである。トンネル型ジョセフソン接合の特性電圧V_cの正確な測定方法を検討し、産総研標準Nb/AlO_x/Nb接合プロセスで作製した試料において統計的な測定を行った。測定温度4.2KにおけるV_c測定値の平均は約1.7mVであり、Ambegaokar-Baratoff理論から予測される値より約25%低いことがわかった。実験と理論の不一致の原因にはいくつかの可能性が考えられるが、現時点では主因は特定できていない。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2007-07-20
著者
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