幾何学的形状異方性による液晶分子の配向効果
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概要
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良好な液晶ディスプレイを製作するためには液晶分子を均一に配向させる必要がある。一般に配向プロセスとしては基板表面を一定方向に摩擦するラビング処理が用いられる。しかし、この処理には布の繊維等埃が出やすいこと、静電気で薄膜トランジスタが破壊されることなどの欠点があり、これに代わる新しいプロセスが求められている。本報告では、AFMを用いては配向基板表面の微細構造について検討し、ラビング処理により基板表面に形状異方性が表出することが確認され、ラビング強度に単純には依存しないことが明らかになった。
- 社団法人映像情報メディア学会の論文
- 1995-06-23
著者
-
関 秀廣
八戸工業大学
-
増田 陽一郎
八戸工業大学
-
関 秀廣
大学院工学研究科電気電子工学専攻・教授、青森県地域結集型共同研究事業(jst:独立行政法人科学技術振興機構)
-
関 秀廣
八戸工業大学工学部電気電子工学科
-
増田 陽一郎
八戸工大 工
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