YBCO薄膜の磁場侵入長と表面抵抗の評価
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概要
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YBCO薄膜のコプレーナウェーブガイド共振器を用いた磁場侵入長、表面抵抗、複素導電率の測定方法とその結果について報告する。磁場侵入長は260nmから550nmの範囲の値が得られ、表面抵抗の最小値は3.8GHzで23μΩ(4.2K),200μΩ(77K)であった。複素導電率の実部σ_1は40K付近でピークを持つことがわかった。また高温超伝導体がグレインとそれをつなぐ弱結合部分(weaklink)から成り立っているという弱結合モデルで実験結果を整理した。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1994-12-14
著者
-
王 鎮
通信総合研究所 関西先端研究センター
-
島影 尚
通信総合研究所関西先端研究センター
-
吉田 啓二
九州大学工学部
-
木須 隆暢
九州大学工学部
-
小宮山 牧児
通信総合研究所関西先端研究センター
-
小宮山 牧児
郵政省通信総合研究所関西支所
-
小宮山 牧兒
通信総合研究所関西支所
-
小宮山 牧兒
通信総合研究所
-
青木 健
九州大学工学部電子工学科
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