YBCO薄膜の残留表面抵抗における弱結合モデル

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概要

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YBCOなどの高温超伝導体多結晶薄膜における残留表面抵抗を説明するためのモデルとして、Hyltonらにより弱結合モデルが提案されている。このモデルでは、多結晶薄膜はジョセフソン接合を挟んでグレインが連結していると考えている。弱結合モデルの妥当性を評価するために、c軸配向YBCO薄膜を用いてコプレーナウェーブガイド共振器を作製し、マイクロ波測定を行い残留表面抵抗を求めた。その結果、実験値は理論値とよい一致が見られ、結晶粒界おける高周波損失が残留表面抵抗の主な原因であることがわかった。
社団法人電子情報通信学会の論文
1995-12-13

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