23aW-13 シリコンナノワイヤーのTEM内その場可視分光装置による光学測定
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概要
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- 社団法人日本物理学会の論文
- 2000-03-10
著者
-
竹田 精治
阪大院理
-
大野 裕
阪大院理
-
Takeda Shingo
Faculty Of Science Himeji Institute Of Technology
-
竹田 精治
大阪大学・大学院理学研究科
-
Ohno Y
Jst‐presto Saitama Jpn
-
尾崎 信彦
筑波大院 数理物質科学研究科
-
Ohno Yoshikazu
Ulsi Laboratory Mitsubishi Electric Corporation
-
尾崎 信彦
阪大院理
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