Atomic Force Microscope(AFM)酸化プロセスによるInAsナノ・デバイスの作製と評価
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概要
著者
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佐々 誠彦
大阪工業大学
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井上 正崇
大阪工業大学
-
大矢 章雄
大阪工業大学工学研究科
-
井上 正崇
大阪工業大学 ナノ材料マイクロデバイス研究センター
-
佐々 誠彦
大阪工業大学ナノ材料マイクロデバイス研究センター
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