ビアホール・スルーホール混在基板への電気銅めっき
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概要
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ビアホール・スルーホールへの電気銅めっきについて,ビアホール・スルーホール混在基板を用いて検討した。また,各種添加剤の銅析出反応に及ぼす影響について電気化学的解析を試みた。混在基板に対して,電気銅めっき初期の高電流密度印加および断続的な電流遮断状態の導入が,スルーホールの均一性およびビアホールのフィリング性に有効であった。スルーホールおよびビアホール開口部における添加剤の選択的な吸着が,混在基板めっきに対して重要と考えられる。銅析出反応への各添加剤効果は,電流密度や電流遮断により大きく変化した。また,電流遮断の際,ポリエチレングリコールの吸着による銅析出抑制効果は,重合度および塩化物イオンの存在に強く依存した。
- 社団法人エレクトロニクス実装学会の論文
- 2003-05-01
著者
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本間 英夫
関東学院大学 工学部
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本間 英夫
株式会社関東学院大学表面工学研究所
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本間 英夫
関東学院大学工学部物質生命科学科
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本間 英夫
関東学院大 工
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三浦 修平
関東学院大学大学院
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西中山 宏
関東学院大学大学院 工学研究科
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小山田 仁子
関東学院大学工学部
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三浦 修平
関東学院大学大学院工学研究科工業化学専攻
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秋山 未来
関東学院大学工学部
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小山田 仁子
関東学院大学大学院
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