サブ1VのSRAMにおけるリークを2桁以上削減する新手法 RRDSV

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概要

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• 2003-10-17

著者

• 桜井 貴康

  東京大学

• 川口 博

  神戸大学大学院工学研究科

• 桜井 貴康

  Institute Of Industrial Science University Of Tokyo

• Min Kyeong-sik

  Institute Of Industrial Science University Of Tokyo

• 神田 浩一

  Institute Of Industrial Science University Of Tokyo

• ROBERT SALIBA

  Institute of Industrial Science, University of Tokyo

• 川口 博

  Institute of Industrial Science, University of Tokyo

• Robert Saliba

  Institute Of Industrial Science University Of Tokyo

• 川口 博

  Institute of Industrial Science, the University of Tokyo:(Present office)Kobe University

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