カソードルミネッセンス法による量子微細構造の評価
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概要
著者
-
中村 修二
日亜化学工業
-
宗田 孝之
早稲田大学理工学術院
-
和田 一実
マサチューセッツ工科大
-
和田 一実
マサチューセッツ工科大学材料理工学科
-
秩父 重英
カリフォルニア大学材料学科
-
幸前 篤朗
NTT光エレクトロニクス研究所
-
村下 達
NTTシステムエレクトロニクス研究所
-
宗田 孝之
早稲田大学
-
中村 修二
Jst-erato中村pj:ucsb
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