増田 則夫 | 日本電気株式会社 生産技術研究所
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概要
関連著者
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増田 則夫
日本電気株式会社 生産技術研究所
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増田 則夫
日本電気株式会社
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増田 則夫
日本電気株式会社生産技術研究所実装設計テクノロジーグループ
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玉置 尚哉
日本電気株式会社生産技術研究所実装設計テクノロジーグループ
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遠矢 弘和
日本電気株式会社
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山口 正洋
東大 大学院医学系研究科
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玉置 尚哉
日本電気株式会社
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岩波 瑞樹
日本電気株式会社 生産技術研究所
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岩波 瑞樹
日本電気株式会社
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万木 弘之
東北大学 通研
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土屋 昌弘
情報通信研究機構
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荒井 賢一
東北大学電気通信研究所
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星野 茂樹
(株)日本電気特許技術情報センター
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星野 茂樹
技術研究組合超先端電子技術開発機構(aset)
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岩波 瑞樹
Necシステム実装研究所
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小野 裕司
Necトーキン株式会社 研究開発本部
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小野 裕司
Necトーキン
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星野 茂樹
日本電気株式会社
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岸 眞人
東京大学電子工学専攻
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岸 眞人
東京大学大学院工学系研究科
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岸 真人
東京大学電子工学科
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山口 正洋
東北大学大学院工学研究科電気・通信工学専攻
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土井 達也
足利工業大学
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山口 正洋
東北大学 大学院工学研究科
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近藤 幸一
NECトーキン株式会社
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斎藤 兆古
法政大学工学部
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齋藤 兆古
法政大 大学院工学研究科
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近藤 幸一
NEC トーキン(株)
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栗山 敏秀
日本電気株式会社生産技術研究所実装設計テクノロジーグループ
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増田 則夫
日本電気(株)
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卜 金清
東北大学電気通信研究所
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荒井 賢一
東北大学 電気通信研究所
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増田 則夫
日本電気株式会社 システム実装研究所
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小野 裕司
Necトーキン株式会社ファンクショナルデバイス事業本部emcデバイス事業部技術部
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土井 達也
足利工大
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近藤 幸一
Necトーキン
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山口 正洋
東北大学電気通信研究所
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山口 正洋
東北大・工
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栗山 敏秀
日本電気株式会社
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山口 正洋
東北大学
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緑川 洋一
法政大
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緑川 洋一
法政大学工学部
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薮上 信
東北大学 通研
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万木 弘之
東北大学電気通信研究所
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薮上 信
東北大学電気通信研究所
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大久保 利之
日本電気株式会社伝送共通技術本部
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大久保 利之
日本電気株式会社
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小屋 祥太
東北大学大学院工学研究科電気・通信工学専攻
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安道 徳昭
日本電気株式会社
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大橋 啓之
日本電気(株)
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大橋 啓之
日本電気株式会社 基礎・環境研究所
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大橋 啓之
NEC
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栗山 敏秀
日本電気・マイクロエレクトロニクス研究所
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明渡 純
(独)産業技術総合研究所グループ
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明渡 純
産業技術総合研究所機械システム研究部門グループ
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明渡 純
産業技術総合研究所
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吉田 史郎
日本電気(株)生産技術研究所
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中田 正文
日本電気(株)ナノエレクトロニクス研究所
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中田 正文
日本電気株式会社 基礎・環境研究所
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津田 弘樹
産業技術総合研究所
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山口 正洋
東北大通研
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荒井 賢一
東北大通研
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小屋 祥太
東北大学
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田中 正文
NEC機能デバイス研究所
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玉置 尚哉
日本電気(株)
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栗山 敏秀
日本電気(株)
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卜 金清
東北大学
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卜 金清
東北大学 電気通信研究所
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増田 則夫
日本電気(株)生産技術研究所
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岩波 瑞樹
日本電気株式会社システム実装研究所
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吉田 史郎
日本電気株式会社
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吉田 悟史
法政大学工学部
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和深 裕
NEC実装研
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荒井 賢一
東北大学
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金 基〓
嶺南大学
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和深 裕
日本電気株式会社生産技術研究所
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島先 敏貴
日本電気エンジニアリング株式会社
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大橋 啓介
MIRAI-Selete
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薮上 信
東北大通研
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福島 忠広
東北大学
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万木 弘之
東北大通研
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山口 正洋
東北大学大学院
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斎藤 義孝
NECトーキン株式会社 研究開発本部
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明渡 純
産業技術総合研
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和深 裕
株式会社NEC情報システムズ
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斉藤 幹雄
日本電気株式会社
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猪股 正之
宮城日本電気株式会社
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小林 勝治
日本電気エンジニアリング株式会社 デバイスソリューション事業部
-
中田 正文
Mirai-selete
-
島先 敏貴
日本電気エンジニアリング
-
大橋 啓之
日本電気株式会社
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岩波 瑞樹
日本電気
著作論文
- C-14-4 エアロゾルデポジション法により作製された超小型光ファイバ端電気光学プローブ(C-14.マイクロ波フォトニクス,一般講演)
- 高精度多層LTCC基板を用いた小型磁界プローブの開発と電流計測への応用(通信EMC/一般)
- フリップチップ接続を有する近傍磁界計測用薄膜微小シールディドループプローブ(マイクロ波,ミリ波)
- 薄膜磁界プローブの開発
- 改良型薄膜シールディドループコイルの試作と特性
- プリント基板上の電流分布解析法の提案
- 電子回路基板中の電流分布推定に関する研究
- ウェーブレットと相関解析によるラインノイズ源探査
- センサーの空間特性を利用したプリント基板上の電流分布推定
- プリント基板上の放射磁界分布の時系列解析
- フェライトめっきによるLSIパッケージ間隙部のシールド構造の検討
- フェライト薄膜によるQFPの電磁ノイズ抑制
- フェライト薄膜によるQFPの電磁ノイズ抑制(放電/電力/一般)
- オンチップ磁性薄膜の特性評価用TEGチップの試作
- 磁性薄膜によるICチップのRF電磁ノイズ抑制効果
- 微小プローブによるIC近傍電磁界の可視化
- 磁気光学/電気光学プローブによる微細回路上高周波電磁界の可視化(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術, テスト技術)
- 磁気光学/電気光学プローブによる微細回路上高周波電磁界の可視化(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術, テスト技術)
- 高空間分解・広帯域磁気光学プローブとその高密度実装技術への適用(光センサ, 一般)
- C-14-1 共振器構造光ファイバ端磁気光学プローブの性能評価とその波形計測への適用(C-14. マイクロ波フォトニクス, エレクトロニクス1)
- 薄膜シールディドループコイルの開発と集積回路の近傍磁界計測
- 薄膜シールディドループコイルによる近傍磁界計測
- SB-3-3 シールディドループコイルを用いた高分解能近傍磁界計測
- 薄膜プロセスを用いた微小シールディドループコイルの設計と試作
- 薄膜プロセスによるシールディドループコイルの設計
- マイクロコンピュータのEMIテスト時における電源供給系の影響
- 通信装置筺体のシールド要因解析
- 近傍磁界測定におけるウェーブレット解析の応用
- ウェーブレット解析のEMCへの応用
- 半導体パッケージの電源端子の高周波電流推定(半導体パッケージの EMC)