Yamamoto Masafumi | Ntt System Electronics Laboratories
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概要
関連著者
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Yamamoto Masafumi
Ntt System Electronics Laboratories
-
Yamamoto M
Ntt Electronics Technology Corporation
-
山本 正樹
東北大学多元物質科学研究所
-
Yamamoto M
Ntt System Electronics Laboratories
-
Yamamoto Masafumi
Ntt Lsi Laboratories
-
山本 正樹
松下技研(株)
-
山本 正樹
京都大学医学部附属病院感染制御部
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山本 正樹
高知大学外科二
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Matsuoka Y
Ntt Lsi Lab. Atsugi‐shi Jpn
-
Murata K
Ntt Photonics Laboratories
-
津留 俊英
東北大学多元物質科学研究所
-
OSAKA Jiro
NTT System Electronics Laboratories
-
Osaka J
Ntt Photonics Lab. Atsugi Jpn
-
Maezawa Koichi
Ntt System Electronics Laboratories:(present) Faculty Of Engineering Nagoya University
-
AKEYOSHI Tomoyuki
NTT System Electronics Laboratories
-
Akeyoshi Tomoyuki
Ntt Photonics Laboratories Atsugi
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羽多野 忠
東北大学多元物質科学研究所
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榊原 美広
東北大多元研
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山本 正樹
東北大学多元物質科学研究所先端計測開発センター軟 X 線顕微計測研究部
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原田 哲男
兵庫県立大学高度産業科学技術研究所
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Otsuji Taiichi
Ntt Network Innovation Laboratories
-
Otsuji Taiichi
Ntt Optical Network Systems Laboratories
-
Waho Takao
Ntt System Electronics Laboratories
-
木村 洋昭
高輝度光科学研究センター
-
山本 正樹
松下電器産業(株)
-
津留 俊英
東北大学多元物質科学研究所先端計測開発センター軟 X 線顕微計測研究部
-
豊田 光紀
東北大学多元物質科学研究所
-
青木 新一郎
松下電器産業(株)
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Inoue T
Tohoku Univ. Sendai Jpn
-
Inoue T
Advanced Discrete Semiconductor Technology Laboratory Corporated Research And Development Center Tos
-
Inoue Tatsuya
Materials And Components Research Laboratory Components And Devices Research Center Matsushita Elect
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Inoue Tetsushi
Research Laboratory Of Resources Utilization Tokyo Institute Of Technology
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Inoue Takahito
Electrotechnical Laboratory
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Sano E
Ntt Network Innovation Lab. Yokosuka‐shi Jpn
-
SHIMIZU Naofumi
NTT Network Innovation Laboratories
-
MATSUZAKI Hideaki
NTT System Electronics Laboratories
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Shimizu Naofumi
The Authors Are With Ntt Network Innovation Laboratories
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Murata K
Ntt Corp. Atsugi‐shi Jpn
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Sano K
Ntt Photonics Laboratories Ntt Corporation
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矢橋 牧名
JASRI
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石川 哲也
理研
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上田 潔
東北大学多元物質科学研究所
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福澤 宏宣
東北大学多元物質科学研究所
-
岩山 洋士
京大院理
-
永谷 清信
京大院理
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八尾 誠
京大院理
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奥西 みさき
東北大多元研
-
上田 潔
東北大多元研
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齋藤 則生
産総研計測標準
-
永園 充
理研XFEL
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矢橋 牧名
理研XFEL
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大橋 治彦
理研XFEL
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木村 洋昭
理研XFEL
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東谷 篤志
理研xfel
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木村 洋昭
JASRI
-
大橋 治彦
理研xfel:jasri
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東谷 篤志
理研 SPring-8
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矢橋 牧名
理研 SPring-8
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Sano Eiichi
Ntt Network Innovation Laboratories
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齋藤 則生
産総研・計測標準
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木村 洋昭
高輝度光科学研究センター(jasri)
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Czasch Achim
Frankfurt U.
-
Dorner Reinhard
Frankfurt U.
-
矢橋 牧名
財団法人高輝度光科学研究センター
-
矢橋 牧名
高輝度光科学研究センター放射光研究所
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石川 哲也
理化学研究所
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奥西 みさき
東北大・多元研
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嶋田 浩三
東北大多元研
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Prumper Georg
東北大多元研
-
Ullrich Joachim
MPI Heidelberg
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Foucar Lutz
Frankfurt U.
-
石川 哲也
独立行政法人理化学研究所播磨研究所
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Liu Xiao
東北大・多元研
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Prumper Georg
東北大多元研:理研xfel
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Prumper G.
東北大多元研
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Foucar Lutz
東北大多元研:理研xfel
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八尾 誠
京都大・理
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八尾 誠
京都大学大学院理学研究科物理学第一教室
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岩山 洋士
京都大・理
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柳原 美広
東北大多元研
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Rudenko Artem
理研xfel:asg Cfel
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本村 幸治
東北大多元研:理研xfel
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Czasch Achim
Frankfurt Univ.
-
Dorner Reinhard
Frankfurt Univ.
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Ullrich Joachim
理研xfel:asg Cfel
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原田 哲男
東北大多元研
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豊田 光紀
東北大多元研
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山本 正樹
東北大多元研
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劉 小井
東北大多元研
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LIU Xiao-Jing
東北大学 多元物質科学研究所
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斉藤 則生
産総研
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石川 哲也
理化学研究所放射光科学総合研究センター
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永園 充
SPring-8
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山口 恵作
松下電器産業(株)
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山本 正樹
東北大学科学計測研究所
-
石川 哲也
独立行政法人理化学研究所播磨研究所放射光科学総合研究センター
-
石川 哲也
理化学研究所播磨研究所x線干渉光学研究室
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福澤 宏直
理研xfel:東北大多元研
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木村 幸治
Jst-crest
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ISHIBASHI Tadao
NTT Photonics Laboratories
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Sasaki Yasuhiro
Display Device Development Division Nec Corporation
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本村 奉治
産総研計測標準:理研
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Sasaki Yasuhiro
Research And Development Group Nec Corporation
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Sasaki Y
Department Of Basic Science Ihinomaki Senshu University
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MURATA Koichi
NTT Network Innovation Laboratories
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SANO Kimikazu
NTT Network Innovation Laboratories
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AKEYOSHI Tomoyuki
NTT Photonics Laboratories
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YAMAMOTO Masafumi
NTT Electronics Corporation
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MURATA Koichi
NTT Photonics Laboratories, NTT Corporation
-
Murata Koichi
Ntt Photonics Laboratories Ntt Corporation
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福澤 宏宣
東北大多元研
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Liu XiaoJing
東北大多元研
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胡 衛兵
東北大学多元物質科学研究所
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胡 衛兵
東北大科研
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渡邊 誠
東北大科研
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本村 幸治
産総研計測標準
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Rudenko Artem
MPI Heidelberg
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酒井 優
東北大学多元物質科学研究所先端計測開発センター軟 X 線顕微計測研究部
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青木 新一郎
松下技研(株)
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山本 正樹
東北大科研
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山本 正樹
東北大学 科学計測研究所附属光学超薄膜研究施設
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原田 哲男
兵庫県立大学
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東谷 篤志
理化学研究所xfel計画推進本部
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酒井 優
東北大学多元物質科学研究所先端計測開発センター軟x線顕微計測研究部
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Sasaki Yasuhiro
Functional Devices And Material Laboratories Nec Corporation
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YAMAMOTO Mitsuru
Functional Devices and Material Research, NEC Corporation, Precision and Intelligence Laboratory, To
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INOUE Takeshi
Functional Devices and Material Research, NEC Corporation
-
YOKOYAMA Haruki
NTT System Electronics Laboratories
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TAKAHASHI Sadayuki
Advanced Research Institute for Science and Engineering, Waseda University
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Ochi A
Nec Corp. Kawasaki Jpn
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江島 丈雄
東北大多元研
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江島 丈雄
東北大学多元物質科学研究所
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羽多野 忠
東北大科研
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Rudenko Artem
理研XFEL
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Liu Xiao
東北大多元研
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田中 隆次
理化学研究所X線自由電子レーザー計画推進本部
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渡邊 誠
東北大多元研
-
永谷 清信
京都大・理
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福澤 宏直
東北大多元研
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本村 奉治
産総研計測標準
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石川 顕一
理研
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田中 隆次
理研
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田中 隆次
理化学研究所・播磨研究所
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田中 降次
理研
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戸坂 亜希
東北大学多元物質科学研究所
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梅津 裕生
東北大学多元物質科学研究所先端計測開発センター軟 X 線顕微計測研究部
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柳原 美廣
東北大学多元物質科学研究所
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山口 恵作
松下技研(株)
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竹内 宏之
松下技研(株)
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山本 正樹
松下技研 (株)
-
山口 恵作
松下技研 (株)
-
青木 新一郎
松下技研 (株)
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TAKEUCHI Seiji
Nanotechnology Research Center, Canon Inc.
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YOSHII Minoru
Nanotechnology Research Center, Canon Inc.
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YAMAMOTO Masaki
Research Institute for Scientific Measurements, Tohoku University
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波多野 忠
東北大科研
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柳原 美廣
東北大学 科学計測研究所附属光学超薄膜研究施設
-
木村 洋昭
東北大学 科学計測研究所附属光学超薄膜研究施設
-
渡邊 誠
東北大学 科学計測研究所附属光学超薄膜研究施設
-
津留 俊英
東北大学 多元物質科学研究所
-
羽多野 忠
東北大学 多元物質科学研究所
-
Nakamura Kentaro
Precision And Intelligence Laboratory Tokyo Institute Of Technology
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MURAGUCHI Masahiro
NTT Electronics Corporation
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ISHIBASHI Tadao
NTT System Electronics Laboratories
-
Yoshii Minoru
Nanotechnology Research Center Canon Inc.
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UEHA Sadayuki
Precision and Intelligence Laboratory, Tokyo Institute of Technology
-
Yamamoto M
Osaka Univ. Suita‐shi Jpn
-
Umeda Mikio
Nagaoka National College Of Technology
-
TAKAHASHI Sadayuki
Research and Development Group, NEC Corporation
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Inoue Takeshi
Material Development Center, NEC Corporation
-
INOUE Takeshi
NEC Corp. Jisso Laboratories
-
YAMAMOTO Mitsuru
NEC Corp. Jisso Laboratories
-
SASAKI Yasuhiro
NEC Corp. Jisso Laboratories
-
OCHI Atsushi
NEC Corp. Jisso Laboratories
-
OCHI Atsushi
Functional Devices and Material Research, NEC Corporation
-
YAMAMOTO Mitsuru
Material Development Center
-
MURATA Koichi
NTT Optical Network Systems Laboratories
-
Takeuchi Seiji
Nanotechnology Research Center Canon Inc.
-
Fukuyama Hiroyuki
Ntt Photonics Laboratories
-
OTSUJI Taiichi
Department of Control Engineering and Science, Faculty of Computer Science and Systems Engineering,
-
ARAI Kunihiro
NTT System Electronics Laboratories
-
OTSUJI Taiichi
NTT System Electronics Laboratories
-
SHIMADA Yasuhei
Display Device Development Division, NEC Corporation
-
TAKAHASHI Sadayuki
Waseda University
-
Yamamoto Mitsuo
Functional Material Laboratories, NEC Corporation
-
ISHIMURA Hiroshi
Radio Application Division, NEC Co.
-
HAMA Yoshinori
Radio Application Division, NEC Co.
-
TANABE Takaya
NTT Interdisciplinary Research Laboratories
-
SHIMIZU Naofumi
NTT Optical Network Systems Laboratories
-
SANO Kimikazu
NTT Optical Network Systems Laboratories
-
SANO Eiichi
NTT Optical Network Systems Laboratories
-
Chen Kevin
Ntt System Electronics Laboratories:(present Address)department Of Electronic Engineering City Unive
-
Muraguchi Masahiro
Currently With Ntt Electronics Co. Ltd.
-
Muraguchi Masahiro
Ntt Wireless Systems Laboratories
-
Muraguchi Masahiro
Ntt Photonics Laboratories
-
石川 顕一
東京大
-
YAMAMOTO Manabu
NTT Interdisciplinary Research Laboratories
-
Tanabe T
Department Of Electronics And Electrical Engineering Faculty Of Science And Technologies Keio Univer
-
Tanabe T
Rhom Co. Ltd. Kyoto Jpn
-
Tanabe Takaya
Ntt Cyber Space Laboratories Ntt Corporation
著作論文
- 22pZF-5 極紫外FELによる原子・クラスター多重イオン化実験III. : クラスター多重イオン化のレーザー波長・レーザー強度依存性(22pZF 原子・分子,領域1(原子・分子,量子エレクトロニクス,放射線物理))
- 22pZF-4 極紫外FELによる原子・クラスター多重イオン化実験II. : クラスター多重イオン化のサイズ依存性(22pZF 原子・分子,領域1(原子・分子,量子エレクトロニクス,放射線物理))
- 22pZF-3 極紫外FELによる原子・クラスター多重イオン化実験I. : 反跳イオン運動量分光による高次光分布測定(22pZF 原子・分子,領域1(原子・分子,量子エレクトロニクス,放射線物理))
- 軟X線多層膜鏡の形状誤差補正のための大面積イオン銃を用いたミリング装置の開発
- 超高精細バイオイメージング用波面補正軟X線多層膜ミラーの開発
- 傾斜エリプソメトリーによる3次元形状計測 (特集 偏光計測)
- 偏光利用による3次元リアルタイム計測法の開発
- 正反射による物体表面の傾斜エリプソメトリー : 精密実時間形状計測への基本概念
- X線ミラー多層膜 (特集欄 ナノテクノロジーにおけるものづくり) -- (真空中で作製するナノ構造)
- 軟X線多層膜光学
- 水晶振動子を用いたバイブロスキャニング法による非導電体の微細形状計測
- バイブロスキャニング法を用いた微細形状測定システムの開発
- 圧電センサを用いた共振型バイブロスキャン法の開発
- 軟X線多層膜と応用の現状(EUV基盤技術とその応用の現状)
- 31a-YM-6 Ni薄膜のM吸収端におけるファラデー効果
- バイブロスキャン微細穴形状測定装置の開発
- New Ellipsometric Approach to Critical Dimension Metrology Utilizing Form Birefringence Inherent in a Submicron Line-and-Space Pattern
- 5a-G-1 透過型多層膜を用いた軟X線偏光分光法 I
- 軟 X 線エリプソメトリー
- 軟X線ポラライザーの最前線
- 軟X線多層膜光学素子 -放射光科学への応用-
- 反射波面補正のためにイオンミリングした軟X線多層膜鏡の評価
- 軟X線顕微鏡用精密多層膜ミラーの開発
- Ultra-Fast Optoelectronic Decision Circuit Using Resonant Tunneling Diodes and a Uni-Traveling-Carrier Photodiode (Special Issue on Integrated Electronics and New System Paradigms)
- A Large Output Voltage Swing of a Resonant Tunneling Flip-Flop Circuit Employing a Monostable-Bistable Transition Logic Element (MOBILE)
- A Novel Delayed Flip-Flop Circuit Using Resonant Tunneling Logic Gates
- High-Speed Static Frequency Divider Employing Resonant Tunneling Diodes and HEMTs
- High-Speed and Low-Power D-FF Employing MOBILEs : Monostable-Bistable Transition Logic Elements
- A Multilayered Piezoelectric Transformer Operating in the Third Order Longitudinal Mode and Its Application for an Inverter
- High-Power Characteristics of Multilayer Piezoelectric Ceramic Transducers
- Small Multilayer Piezoelectric Transformers with High Power Density : Characteristics of Second and Third-Mode Rosen-Type Transformers
- Low-Frequency Sound Source with Dual Bending Radiation Surfaces
- An Optoelectronic Clock Recovery Circuit Using a Resonant Tunneling Diode and a Uni-Traveling-Carrier Photodiode (Joint Special Issue on Recent Progress in Optoelectronics and Communications)
- An Optoelectronic Clock Recovery Circuit Using a Resonant Tunneling Diode and a Uni-Traveling-Carrier Photodiode (Joint Special Issue on Recent Progress in Optoelectronics and Communications)
- An Optoelectronic Logic Gate Monolithically Integrating Resonant Tunneling Diodes and a Uni-Traveling-Carrier Photodiode
- Input Power Dependence of Large-Signal Microwave Characteristics of Resonant-Tunneling High Electron Mobility Transistors
- Crosstalk-Suppressed Readout System Using Shading Band
- A Novel Functional Logic Circuit Using Resonant-Tunneling Devices for Multiple-Valued Logic Applications
- 10-GHz Operation of Multiple-Valued Quantizers Using Resonant-Tunneling Devices (Special Issue on Multiple-Valued Logic and Its Applications)
- Highly Uniform Regrown In_Ga_As/AlAs/InAs Resonant Tunneling Diodes on In_Ga_As
- Uniformity of the High Electron Mobility Transistors and Resonant Tunneling Diodes Integrated on an InP Substrate Using an Epitaxial Structure Grown by Molecular Beam Epitaxy and Metalorganic Chemical Vapor Deposition
- Crucial Role of Extremely Thin AlSb Barrier Layers in InAs/AlSb/GaSb/AlSb/InAs Resonant Interband Tunneling Diodes
- Dependence of Resonant Interband Tunneling Current on Barrier and Well Width in InAs/AlSb/GaSb/AlSb/InAs Double-Barrier Structures
- Tunneling Current through Si Donor Level in GaAs/AlAs Single-Barrier Diodes