小谷 教彦 | 広島国際大学社会環境科学部
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概要
関連著者
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小谷 教彦
広島国際大学社会環境科学部
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谷沢 元昭
ルネサステクノロジ株式会社
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谷沢 元昭
(株)ルネサステクノロジ
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石川 清志
ルネサステクノロジ
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園田 賢一郎
株式会社ルネサステクノロジ
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小谷 教彦
広島国際大学 社会環境科学部
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石川 清志
株式会社ルネサステクノロジ
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小谷 教彦
広島国際大 社会環境科学
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谷沢 元昭
三菱電機株式会社ULSI開発研究所
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井上 靖朗
(株)ルネサステクノロジ先端デバイス開発部
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井上 靖朗
(株)ルネサステクノロジ
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岡垣 健
(株)ルネサステクノロジ
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国清 辰也
株式会社ルネサステクノロジ生産本部
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内田 哲也
(株)ルネサステクノロジ
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小倉 卓
(株)genusion
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荒木 康弘
株式会社ルネサステクノロジ
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木寺 真琴
三菱電機株式会社ULSI技術開発センター
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石川 清志
三菱電機株式会社ULSI技術開発センター
-
谷沢 元昭
三菱電機(株)ULSI開発研究所
-
石川 清志
三菱電機(株)ULSI開発研究所
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犬石 昌秀
三菱電機株式会社ULSI技術開発センター
-
犬石 昌秀
株式会社ルネサステクノロジ 先端デバイス開発部
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犬石 昌秀
株式会社ルネサステクノロジ
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谷沢 元昭
株式会社ルネサステクノロジ
-
清水 悟
株式会社ルネサステクノロジ
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河井 伸治
株式会社ルネサステクノロジ
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小倉 卓
株式会社ルネサステクノロジ
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小林 真一
株式会社ルネサステクノロジ
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井上 靖朗
株式会社ルネサステクノロジ
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五十嵐 元繁
株式会社ルネサステクノロジ
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石川 清志
(株)ルネサステクノロジ
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国清 辰也
(株)ルネサステクノロジ
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園田 賢一郎
(株)ルネサステクノロジ
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五十嵐 元繁
(株)ルネサステクノロジ
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小谷 教彦
三菱電機株式会社ulsi開発
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園田 賢一郎
三菱電機株式会社ULSI技術開発センター
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石川 清志
三菱電機(株)ulsi技術開発センター
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三好 寛和
三菱電機(株) Ulsi開発研究所
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井上 靖朗
三菱電機(株)
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園田 賢一郎
三菱電機(株)ULSI開発研究所
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永久 克己
三菱電機(株)ULSI開発研究所
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園田 賢一郎
三菱電機(株)
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太田 和伸
ソニー株式会社
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岡垣 健
三菱電機(株)ULSI技術開発センター
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国清 辰也
三菱電機(株)ULSI技術開発センター
-
太田 和伸
三菱電機(株)ULSI技術開発センター
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網城 啓之
三菱電機(株)メモリー事業統括部
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永久 克巳
(株)ルネサステクノロジ
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小谷 教彦
三菱電機(株)ULSI開発研究所
-
小谷 教彦
三菱電機ULSI開発研究所
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坪内 夏朗
三菱電機ULSI開発研究所
-
坪内 夏朗
三菱電機 Ulsi開研
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坪内 夏朗
三菱電機株式会社lsi研究所
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小谷 教彦
三菱電機(株)ulsi技術開発センター
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永久 克己
株式会社ルネサステクノロジ
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谷沢 元昭
三菱電機ULSI開発研究所
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石川 多恵
三菱電機ULSI開発研究所
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三好 寛和
三菱電機(株)
著作論文
- CBCM法を用いたゲート絶縁膜の容量測定
- ゲート電流の基板バイアス依存性を考慮したフラッシュメモリセルのコンパクトモデル(プロセス・デバイス・回路・シミュレーション及び一般)
- ゲート電流の基板バイアス依存性を考慮したフラッシュメモリセルのコンパクトモデル(プロセス・デバイス・回路シミュレーション及び一般)
- MOSFET反転層移動度のストレス依存性評価(プロセス・デバイス・回路シミュレーション及び一般)
- デバイス/回路シミュレータの結合
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- 統計的ばらつき予測のための回路モデルパラメータ生成システムの構築
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- 初期値の連続変形を考慮したホモトピー法による動作点解析