宮村 佳児 | コマツ電子金属
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概要
関連著者
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宮村 佳児
コマツ電子金属
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高木 信一
東京大学大学院 工学系研究科
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臼田 宏治
半導体MIRAI-ASET
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入沢 寿史
半導体MIRAI-ASET
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平下 紀夫
半導体MIRAI-ASET
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手塚 勉
半導体MIRAI-ASET
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杉山 直治
半導体MIRAI-ASET
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杉山 直治
MIRAI-ASET
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豊田 英二
東芝セラミックス株式会社
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田邊 顕人
半導体MIRAI-ASET
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古賀 淳二
東芝 研究開発センターLSI基盤技術ラボラトリー
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高木 信一
半導体miraiプロジェクト 超先端電子技術開発機構(aset)
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沼田 敏典
半導体miraiプロジェクト 超先端電子技術開発機構(aset)
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古賀 淳二
東芝研究開発センターlsi基盤技術研究所
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高木 信一
東大 大学院工学系研究科
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古賀 淳二
東芝
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高木 信一
半導体MIRAIプロジェクト-ナノ電子デバイス研究センター
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高木 信一
東京大学
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沼田 敏典
半導体MIRAIプロジェクト超先端電子技術開発機構(ASET)
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古賀 淳二
半導体MIRAI-ASET
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高木 信一
MIRAI-産総研ASRC
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手塚 勉
MIRAI-ASET
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平下 紀夫
MIRAI-ASET
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入沢 寿史
MIRAI-ASET
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沼田 敏典
MIRAI-ASET
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臼田 宏治
MIRAI-ASET
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古賀 淳二
MIRAI-ASET
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田邊 顕人
MIRAI-ASET
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古賀 淳二
東芝研究開発センターLSI基盤技術ラボラトリー
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JABLONSKI Jaroslaw
コマツ電子金属株式会社研究開発センター物性研究室
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Jablonski Jaroslaw
Komatsu Electronic Metals Co. Ltd. Hiratsuka Jpn
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斎藤 美奈
コマツ電子金属株式会社 研究開発センター
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片山 達彦
コマツ電子金属株式会社 研究開発センター
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Jablonski Jaroslaw
コマツ電子金属株式会社 研究開発センター
著作論文
- 高性能・微細ひずみSOI-MOSFET
- 高性能・部分空乏型および完全空乏型ひずみSOI-MOSFET(IEDM特集(先端CMOSデバイス・プロセス技術))
- 高性能・部分空乏型および完全空乏型ひずみSOI-MOSFET
- 低ドーズSIMOXウェーハの埋込酸化膜におけるITOXの効果