27aXK-6 InAs(111)A表面In原子によるカゴメ格子状態密度の低温STM観測(27aXK グラフェン・半導体,領域9(表面・界面,結晶成長))

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概要

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• 2013-03-26

著者

• 田村 浩之

  NTT物性基礎研

• 蟹澤 聖

  Ntt物性基礎研

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