NBTIを考慮した電源配線最適化の一手法(信頼性,システムオンシリコンを支える設計技術)
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概要
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LSIの微細化・高集積化技術の進展に伴い,LSIの信頼性問題であるNBTI(負バイアス温度不安定性)によるタイミング劣化やエレクトロマイグレーションなどが懸念されている.NBTIとは,温度およびSiに依存してタイミング劣化が起こる現象である.NBTIによるタイミング劣化は回路の設計が将来的に小さくなるにつれ,顕在化すると予想される.従来では,IRドロップやエレクトロマイグレーションを最適化の設計指標として扱う最適化手法は提案されていたが,NBTIによるタイミング劣化は考慮されていなかった.そこで,本稿では特にNBTIに焦点を当て,製造5年,10年後のNTBIによるタイミング劣化を考慮した高信頼電源配線最適化手法を提案する.
- 2012-02-28
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