金属/Si界面の構造乱れによるショットキーバリア変調 : 第一原理計算による理論的検討(ゲート絶縁薄膜,容量膜,機能膜及びメモリ技術)

スポンサーリンク

概要

著者

関連論文

もっと見る

スポンサーリンク