C-8-14 SFQ遅延測定回路によるSFQ/CMOSハイブリッドメモリのアクセスタイム測定(C-8.超伝導エレクトロニクス,一般セッション)
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概要
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- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2009-03-04
著者
-
岡本 悠史
横浜国立大学大学院工学府
-
陳 賢珠
横浜国立大学大学院工学府
-
矢口 謙太
横浜国立大学大学院工学府
-
山梨 裕希
横浜国立大学大学院工学府
-
吉川 信行
横浜国立大学大学院工学府
-
朴 熙中
横浜国立大学
-
矢口 謙太
横浜国立大学工学府
-
陳 賢珠
横浜国立大学工学府
-
吉川 信行
横浜国立大学大学院:crest-jst
-
吉川 信行
横浜国大工
-
吉川 信行
横浜国立大学大学院 工学研究院
-
Yoshikawa N
Yokohama National Univ. Yokohama Jpn
-
朴 熙中
横浜国立大学工学府
-
山梨 裕希
横浜国立大学工学府
-
岡本 悠史
横浜国立大学工学府
-
山梨 祐希
横浜国立大学工学部
-
吉川 信行
横浜国立大学 工学部 電子情報工学科
-
山梨 裕希
横浜国立大学大学院
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