Josephson-CMOSハイブリッドメモリのアクセスタイムのアドレス依存性の測定(超伝導エレクトロニクス基盤技術及び一般)
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概要
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SFQ回路のハイエンド情報機器への応用を目的として、SFQ回路の高速性とCMOS回路の高集積性を融合したJosephson-CMOSハイブリッドメモリが検討されている。本研究では、任意のアドレスの選択が可能な64kbitハイブリッドメモリを試作し、SFQ遅延時間測定回路を用いてメモリのアクセスタイムのアドレス依存性を測定した。開発したハイブリッドメモリシステムでは、SFQ回路を用いたビットシリアルのアドレス入力ポートを設けることで任意のアドレスへのアクセスを可能とした。試作には、Rohm 0.18μmプロセスならびにISTEC 2.5kA/cm^2 Nbプロセスを用いた。実験により7通りのメモリアドレスに対してアクセスタイムを測定した。測定されたアクセスタイムは1.43-1.51nsとなり、シミュレーションと近い結果を得た。
- 2010-10-12
著者
-
陳 賢珠
横浜国立大学大学院工学府
-
矢口 謙太
横浜国立大学大学院工学府
-
山梨 裕希
横浜国立大学大学院工学府
-
吉川 信行
横浜国立大学大学院工学府
-
吉川 信行
横浜国立大学大学院:crest-jst
-
吉川 信行
横浜国立大学大学院 工学府
-
吉川 信行
横浜国立大学:jst-crest
-
吉川 信行
横浜国立大学大学院工学研究院
-
吉川 信行
横浜国大工
-
吉川 信行
横浜国立大学大学院 工学研究院
-
Yoshikawa N
Yokohama National Univ. Yokohama Jpn
-
山梨 裕希
横浜国立大学工学府
-
桑原 啓太
横浜国立大学工学部
-
山梨 祐希
横浜国立大学工学部
-
吉川 信行
横浜国立大学 工学部 電子情報工学科
-
桑原 啓太
横浜国立大学工学府
-
山梨 裕希
横浜国立大学大学院
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