C-8-9 飛行時間型質量分析用SFQ遅延測定回路の測定(C-8.超伝導エレクトロニクス,一般セッション)
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概要
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- 2010-08-31
著者
-
山梨 裕希
横浜国立大学大学院工学府
-
吉川 信行
横浜国立大学大学院工学府
-
吉川 信行
横浜国立大学:jst-crest
-
吉川 信行
横浜国立大学大学院 工学研究院
-
山梨 裕希
横浜国立大学工学府
-
山梨 祐希
横浜国立大学工学部
-
高橋 佳弘
横浜国立大学工学府
-
吉川 信行
横浜国立大学 工学部 電子情報工学科
-
山梨 裕希
横浜国立大学大学院
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