C-8-1 10kA/cm^2Nbプロセスを用いたJosephson接合のEscape Rate測定回路(C-8. 超伝導エレクトロニクス,一般セッション)
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概要
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- 一般社団法人電子情報通信学会の論文
- 2012-08-28
著者
-
山梨 裕希
横浜国立大学大学院工学府
-
吉川 信行
横浜国立大学大学院 工学府
-
吉川 信行
横浜国立大学工学府
-
吉川 信行
横浜国立大学大学院 工学研究院
-
山梨 裕希
横浜国立大学工学府
-
吉川 信行
横浜国大 大学院工学研究院
-
山梨 祐希
横浜国立大学工学部
-
吉川 信行
横浜国立大学 工学部 電子情報工学科
-
向山 隆志
横浜国立大学工学府
-
室 健太郎
横浜国立大学工学府
-
山梨 裕希
横浜国立大学大学院
-
向山 隆志
横浜国立大学大学院工学府
-
吉川 信行
横浜国立大学大学院,ALCA-JST
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