C-8-9 超伝導ナノストリップライン検出器を用いた飛行時間型質量分析システムの検討(C-8.超伝導エレクトロニクス,一般セッション)
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概要
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- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2011-02-28
著者
-
山梨 裕希
横浜国立大学大学院工学府
-
吉川 信行
横浜国立大学大学院工学府
-
吉川 信行
横浜国立大学:jst-crest
-
吉川 信行
横浜国立大学大学院 工学研究院
-
山梨 裕希
横浜国立大学工学府
-
山梨 祐希
横浜国立大学工学部
-
高橋 佳弘
横浜国立大学工学府
-
吉川 信行
横浜国立大学 工学部 電子情報工学科
-
山梨 裕希
横浜国立大学大学院
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