C-8-14 高臨界電流密度プロセスを用いたSFQ FFTプロセッサ用バタフライ演算回路の要素回路の動作実証(C-8.超伝導エレクトロニクス,一般セッション)
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概要
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- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2011-02-28
著者
-
山梨 裕希
横浜国立大学大学院工学府
-
吉川 信行
横浜国立大学大学院工学府
-
貝沼 世樹
横浜国立大学大学院工学府
-
島村 泰浩
横浜国立大学大学院工学府
-
宮岡 史滋
横浜国立大学大学院工学府
-
吉川 信行
横浜国立大学大学院:crest-jst
-
吉川 信行
横浜国立大学大学院 工学府
-
吉川 信行
横浜国立大学:jst-crest
-
吉川 信行
横浜国立大学大学院工学研究院
-
吉川 信行
横浜国大工
-
吉川 信行
横浜国立大学大学院 工学研究院
-
Yoshikawa N
Yokohama National Univ. Yokohama Jpn
-
山梨 裕希
横浜国立大学工学府
-
貝沼 世樹
横浜国立大学大学院
-
宮岡 史滋
横浜国立大学大学院
-
山梨 祐希
横浜国立大学工学部
-
島村 泰浩
横浜国立大学大学院
-
吉川 信行
横浜国立大学 工学部 電子情報工学科
-
山梨 裕希
横浜国立大学大学院
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