C-8-10 SFQ FFTプロセッサ用バタフライ演算回路の高速測定(C-8.超伝導エレクトロニクス,一般セッション)
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概要
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- 2010-08-31
著者
-
山梨 裕希
横浜国立大学大学院工学府
-
吉川 信行
横浜国立大学大学院工学府
-
貝沼 世樹
横浜国立大学大学院工学府
-
島村 泰浩
横浜国立大学大学院工学府
-
宮岡 史滋
横浜国立大学大学院工学府
-
吉川 信行
横浜国立大学大学院:crest-jst
-
吉川 信行
横浜国大工
-
吉川 信行
横浜国立大学大学院 工学研究院
-
Yoshikawa N
Yokohama National Univ. Yokohama Jpn
-
山梨 裕希
横浜国立大学工学府
-
貝沼 世樹
横浜国立大学大学院
-
宮岡 史滋
横浜国立大学大学院
-
永沢 秀一
(財)国際超電導産業技術研究センター
-
山梨 祐希
横浜国立大学工学部
-
永沢 秀一
ISTEC
-
島村 泰浩
横浜国立大学大学院
-
吉川 信行
横浜国立大学 工学部 電子情報工学科
-
永沢 秀一
Istec-srl
-
山梨 裕希
横浜国立大学大学院
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