岡本 悠史 | 横浜国立大学工学府

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概要

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関連著者

• 岡本 悠史

  横浜国立大学大学院工学府

• 陳 賢珠

  横浜国立大学大学院工学府

• 山梨 裕希

  横浜国立大学大学院工学府

• 吉川 信行

  横浜国立大学大学院工学府

• 吉川 信行

  横浜国大工

• 吉川 信行

  横浜国立大学大学院 工学研究院

• 岡本 悠史

  横浜国立大学工学府

• 山梨 祐希

  横浜国立大学工学部

• 吉川 信行

  横浜国立大学 工学部 電子情報工学科

• 山梨 裕希

  横浜国立大学大学院

• 矢口 謙太

  横浜国立大学大学院工学府

• 矢口 謙太

  横浜国立大学工学府

• 吉川 信行

  横浜国立大学大学院:crest-jst

• Yoshikawa N

  Yokohama National Univ. Yokohama Jpn

• 朴 熙中

  横浜国立大学工学府

• 山梨 裕希

  横浜国立大学工学府

• 朴 熙中

  横浜国立大学

• 朴 煕中

  横浜国立大学大学院工学府

• 陳 賢珠

  横浜国立大学工学府

• 吉川 信行

  横浜国立大学:jst-crest

• 吉川 信行

  横浜国立大学大学院工学研究院

• Van Duzer

  University of California, Berkeley, Department of Electrical Engineering and Computer Sciences

• 河合 宣彰

  横浜国立大学大学院工学府

• Van Duzer

  University Of California Berkeley Department Of Electrical Engineering And Computer Sciences

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著作論文

• SFQ TDCを用いた64kb Josephson/CMOSハイブリッドメモリのアクセスタイム測定(ディジタル,一般)
• C-8-13 SFQ/CMOSハイブリッドメモリのシリアルデータ入力化の検討(C-8.超伝導エレクトロニクス,一般セッション)
• C-8-6 SFQ/CMOSハイブリッドメモリ用セルフバイアス回路の設計と評価(C-8.超伝導エレクトロニクス,一般セッション)
• C-8-14 SFQ遅延測定回路によるSFQ/CMOSハイブリッドメモリのアクセスタイム測定(C-8.超伝導エレクトロニクス,一般セッション)
• SFQ TDCを用いたJosephson/CMOSハイブリッドメモリのアクセスタイム測定(デジタル,一般)

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