PC02 ラビングした配向膜の異方性の分布検出の試み(トピカルセッション-液晶物性計測の最前線-, 2005年日本液晶学会討論会)

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概要

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• 日本液晶学会の論文
• 2005-09-05

著者

• 木村 宗弘

  長岡技科大・工

• 赤羽 正志

  長岡技科大・工

• 赤羽 正志

  長岡技術科学大学

• 木村 宗弘

  長岡技科大工

• 長谷川 岳

  長岡技科大工

• 赤羽 正志

  長岡技科大

• 木村 宗弘

  長岡技科大

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