3PB02 全反射エリプソメトリー法による液晶界面配向の解析
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概要
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The total reflection ellipsometry has been applied to investigate the behavior of Liquid Crystal(LC) molecules at the interface between LC and alignment film. The total reflection method allows to use LC cell which is not doped with dichroic dye and to observe the reflected light, which includes the imformation about the LC molecular behavoir at inaterface. From the numerical results of the reflection ellipsometry, it was found that, the phase difference versus applied voltage depends on an incident angle, a wavelengh of incident light, and the thickness of an alignment film. This analytical method is sensible enough to estimate the anchoring strength of LC cells.
- 日本液晶学会の論文
- 1997-09-24
著者
-
木村 宗弘
長岡技科大・工
-
赤羽 正志
長岡技科大・工
-
赤尾 賢一
日本分光(株)
-
木村 宗弘
長岡技科大工
-
田所 利康
日本分光
-
鳥海 弥和
東大院総合
-
鳥海 弥和
東京大学大学院総合文化研究科相関基礎科学
-
赤尾 賢一
日本分光
-
田所 利康
有限会社テクノ・シナジー
-
奥谷 聡
長岡技科大・工
-
赤羽 正志
長岡技科大
-
木村 宗弘
長岡技科大
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