3A03 全反射エリプソメトリーによる界面液晶配向の電場応答の解析 (II)
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概要
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The liquid crystal (LC) director orientation at the interface between an alignment film and LC was investigated by the total reflection ellipsometry (TRE). By the TRE, it was observed that the response of the interfacial LC director reorientation to the applied voltage depends on the normalized anchoring strength. From experimantal and theoretical results, it was found that the TRE allows to investigate the interfacial LC director orientation with a high sensitivity and estimate the polar anchoring strength of LC cells.
- 日本液晶学会の論文
- 1998-10-12
著者
-
木村 宗弘
長岡技科大・工
-
赤羽 正志
長岡技科大・工
-
赤尾 賢一
日本分光(株)
-
木村 宗弘
長岡技科大工
-
田所 利康
日本分光
-
鳥海 弥和
東大院総合
-
鳥海 弥和
東京大学大学院総合文化研究科相関基礎科学
-
赤尾 賢一
日本分光
-
田所 利康
有限会社テクノ・シナジー
-
奥谷 聡
長岡技科大・工
-
竹見 直樹
長岡技科大工
-
渡辺 勝明
長岡技科大工
-
赤羽 正志
長岡技科大
-
木村 宗弘
長岡技科大
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