2A07 色素添加反射エリプソメトリーによる極角アンカリング強度の評価
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概要
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The liquid crystal (LC) director reorientation at the interface between a substrate and an LC layer was investigated by the dye-doped reflection ellipsometry (DDRE). The experimental results demonstrated that the response of the ellipsometric angles under the applied voltage were in good agreement with the numerical results where the optical components such as the glass substrate, an insulating film, an ITO film and an alignment film were taken into account. From the analysis of the experimantal results, it was found that the DDRE has a potential to evaluate the polar anchoring strength of LC cells.
- 日本液晶学会の論文
- 1999-09-28
著者
-
木村 宗弘
長岡技科大・工
-
赤羽 正志
長岡技科大・工
-
赤尾 賢一
日本分光(株)
-
木村 宗弘
長岡技科大工
-
田所 利康
日本分光
-
鳥海 弥和
東大院総合
-
鳥海 弥和
東京大学大学院総合文化研究科相関基礎科学
-
赤尾 賢一
日本分光
-
田所 利康
有限会社テクノ・シナジー
-
奥谷 聡
長岡技科大・工
-
赤羽 正志
長岡技科大
-
木村 宗弘
長岡技科大
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