3C02 偏光解析法による液晶自己保持膜での屈折率の評価(物理・物性)
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概要
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The refractive indices of the Free-Standing Films (FSFs) were investigated by the variable angle spectroscopic ellipsomery. In the case of the FSFs with thickness more than 160nm, numerical fitting curves were well fitted on the experimental result and a remarkable change of Ψ, which implies the existence of anisotropy of the refractive indices (e. g. birefringence Δn) can be recognized. It was found that the birefringence of thick FSFs whose thickness is more than 200nm is almost the same as those of bulk sectic layers.
- 日本液晶学会の論文
- 2002-10-09
著者
-
木村 宗弘
長岡技科大・工
-
赤羽 正志
長岡技科大・工
-
松橋 信明
八戸工業高等専門学校電気情報工学科
-
木村 宗弘
長岡技科大工
-
松橋 信明
八戸高専
-
奥本 恵隆
長岡技科大工
-
吉田 真史
武蔵工大
-
田所 利康
ウーラムジャパン
-
田所 利康
有限会社テクノ・シナジー
-
赤羽 正志
長岡技科大
-
木村 宗弘
長岡技科大
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