3A02 偏光解析法を用いたスメクティック液晶自己保持膜の層構造に関する研究
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概要
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The layer structure of thin MHPOBC Free-Standing Film (FSF) was investigated by the transmission ellipsometry. In various films with thickness between 2 and 10 smectic layers, the quantized film thickness in SmA phase and the relation between the tilt angle and the film thickness in SmC_A phase was measured. It was found that the layer thickness in SmA phase is 2.5nm which is much smaller than that in the bulk sample measured by the X-ray study. The layer thickness seems not to depend on the tilt angle. It is considered that surface interaction of FSF may affect the layer thickness and tilt angle.
- 日本液晶学会の論文
- 2000-10-23
著者
-
木村 宗弘
長岡技科大・工
-
赤羽 正志
長岡技科大・工
-
松橋 信明
八戸工業高等専門学校電気情報工学科
-
木村 宗弘
長岡技科大工
-
松橋 信明
八戸高専
-
奥本 恵隆
長岡技科大工
-
奥本 忠隆
長岡技科大工
-
赤羽 正志
長岡技科大
-
木村 宗弘
長岡技科大
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