3AC01 透過エリプソメトリを用いた反強誘電性液晶におけるsubphaseの構造解析
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概要
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We investigated the smectic layer structure in subphases of an antiferroelectric liquid crystal. The structure was analyzed by comparing experimental results measured by transmission ellipsometry with simulations by 4×4 matrix. The material of antiferroelectric liquid crystal was MHPOBC(R), and experiment was carried out by using free standing films. In this measurement, the temprature, incident angle of He-Ne laser beam and the number of the layers of the free standing films were changed.
- 日本液晶学会の論文
- 1997-09-24
著者
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