2B03 液晶自己保持膜の光学的性質
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概要
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The refractive indices of the Free-Standing Films (FSFs) with more than 100(nm) thickness were evaluated by the transmission ellipsometry. The refractive indices of the FSFs with more than 1000(nm) thickness were constant to the film thickness. While, the data of FSFs with less than 1000 (nm) thickness scattered widely depending on the film thickness, because the influence of the refractive indcies and the film thickness could not be separated.
- 日本液晶学会の論文
- 2001-09-24
著者
-
木村 宗弘
長岡技科大・工
-
赤羽 正志
長岡技科大・工
-
松橋 信明
八戸工業高等専門学校電気情報工学科
-
木村 宗弘
長岡技科大工
-
松橋 信明
八戸高専
-
奥本 恵隆
長岡技科大工
-
赤羽 正志
長岡技科大
-
木村 宗弘
長岡技科大
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