3D08 分光エリプソメトリを用いた高チルト配向セルの液晶セルパラメータとアンカリング強度の測定(2004年日本液晶学会討論会)
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概要
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We propose a novel technique for determining the four cell parameters such as cell gap d, tilt angle θ, twist angle of the director alignment φ_t, and the angle between the axis of the polarizer and the entrance LC director φ_i. Applying renormalized transmission spectroscopic ellipsometry (RTSE), the evaluation of director profile in the case of twisted nematic cell with relatively high pretilt angle were performed. Using these parameters, we detemied the azimuthal anchoring strength.
- 日本液晶学会の論文
- 2004-09-26
著者
-
木村 宗弘
長岡技科大・工
-
赤羽 正志
長岡技科大・工
-
赤羽 正志
長岡技術科学大学
-
木村 宗弘
長岡技科大工
-
Oo Thet
Dept. Of Electrical Engi. Nagaoka Univ. Of Tech.
-
田中 紀彦
長岡技科大工
-
赤羽 正志
長岡技科大
-
木村 宗弘
長岡技科大
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