1B14 全反射エリプソメトリーによる液晶界面フリッカー現象の解析
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概要
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The optical flickering effect in a nematic ECB cell has been studied using total-reflection time-resolved spectroellipsometry (TRSE). Under an applied bipolar electric field, optical flickering arises from a change in internal electric field caused by various factors such as the presence of ionic impurities and surface charges. In the present study, in order to investigate the relationships between flickering frequency and the various factors that cause optical flickering, we examine the frequency dependence of flickering magnitude and waveform. We found that the magnitude of optical flickering in the middle frequency region (0.1lkHz to lkHz) caused by high-mobility ionic impurities increases after the aging process.
- 日本液晶学会の論文
- 2000-10-23
著者
-
木村 宗弘
長岡技科大・工
-
赤羽 正志
長岡技科大・工
-
赤尾 賢一
日本分光(株)
-
木村 宗弘
長岡技科大工
-
田所 利康
日本分光
-
鳥海 弥和
東大院総合
-
鳥海 弥和
東京大学大学院総合文化研究科相関基礎科学
-
赤尾 賢一
日本分光
-
田所 利康
有限会社テクノ・シナジー
-
奥谷 聡
長岡技科大・工
-
赤羽 正志
長岡技科大
-
木村 宗弘
長岡技科大
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