3A02 全反射エリプソメトリーによる界面液晶配向の電場応答の解析 (I)
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概要
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This paper reports the application of total reflection ellipsometry (TRE) to the study of liquid crystal reorientation dynamics. Experiments using a high refractive-index total-reflection prism demonstrate that TRE can isolate the director dynamics of liquid crystals in the very vicinity of substrate surfaces. Furthermore, by changing the incident light angle, TRE can perform depth-profiling experiments that would provide information about the thickness of anchoring layer and its strength. The applicability and advantage of TRE are demonstrated for nematic 5CB and the results of TRE experiment (surface dynamics) are discussed in comparison with the corresponding results obtained by using transmission ellipsometry (bulk dynamics).
- 日本液晶学会の論文
- 1998-10-12
著者
-
木村 宗弘
長岡技科大・工
-
赤羽 正志
長岡技科大・工
-
赤尾 賢一
日本分光(株)
-
木村 宗弘
長岡技科大工
-
田所 利康
日本分光
-
鳥海 弥和
東大院総合
-
鳥海 弥和
東京大学大学院総合文化研究科相関基礎科学
-
赤尾 賢一
日本分光
-
田所 利康
有限会社テクノ・シナジー
-
奥谷 聡
長岡技科大・工
-
赤羽 正志
長岡技科大
-
木村 宗弘
長岡技科大
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