PA05 配向膜界面における液晶の Characterization(2004年日本液晶学会討論会)
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概要
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A novel method of evaluation of polar anchoring strength A_θ is proposed. A_θ is evaluated from measurement of the optical retardation measured by the symmetric-oblique incident transmission ellipsometry (SOITE). By using the SOITE, A_θ can be evaluated accurately without the effect of multi-beam interference (MBI). The advantage of our method was shown experimentally.
- 日本液晶学会の論文
- 2004-09-26
著者
-
木村 宗弘
長岡技科大・工
-
赤羽 正志
長岡技科大・工
-
赤羽 正志
長岡技術科学大学
-
木村 宗弘
長岡技科大工
-
田中 紀彦
長岡技科大工
-
阿部 大和
長岡技科大・工
-
赤羽 正志
長岡技科大
-
木村 宗弘
長岡技科大
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