1-8b 偏光解析法を用いた液晶配向の動的電場応答の評価
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概要
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The dye-doped reflection ellipsometry is effective method to investigate the behavior of Liquid Crystal director at the interface between LC and alignment film. For the quantitative estimate of the polar anchoring strength of LC cells, it is important to analyze the optical parameters(thickness, refractive index) of the alignment film, ITO film and glass substrate. We mesured these optical parameters and electrical dynamic responce of LC cells. Dye doped ellipsometry allows to estimate the polar anchoring strength quantitatively by comparing exprimental results with thoretical ones.
- 日本液晶学会の論文
- 1998-10-12
著者
-
木村 宗弘
長岡技科大・工
-
赤羽 正志
長岡技科大・工
-
赤尾 賢一
日本分光(株)
-
木村 宗弘
長岡技科大工
-
田所 利康
日本分光
-
鳥海 弥和
東大院総合
-
鳥海 弥和
東京大学大学院総合文化研究科相関基礎科学
-
赤尾 賢一
日本分光
-
田所 利康
有限会社テクノ・シナジー
-
奥谷 聡
長岡技科大・工
-
竹見 直樹
長岡技科大工
-
渡辺 勝明
長岡技科大工
-
赤羽 正志
長岡技科大
-
木村 宗弘
長岡技科大
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