1B13 エリプソメトリーによるネマティック液晶の電場応答解析
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概要
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The electrical response of the LC directors in the bulk and near the surface were investigated by transmission and total reflection (TRE) ellipsometries, respectively. Since the static response of the phase difference on the electric field measured by the TRE depends on the interfacial LC director reorientation, the polar anchoring strength of the LC cell was evaluated quantitatively. The director reorientation in the bulk was also analyzed by the transmission ellipsometry, which was taken the anchoring energy into account.
- 日本液晶学会の論文
- 2000-10-23
著者
-
木村 宗弘
長岡技科大・工
-
赤羽 正志
長岡技科大・工
-
赤尾 賢一
日本分光(株)
-
木村 宗弘
長岡技科大工
-
田所 利康
日本分光
-
鳥海 弥和
東大院総合
-
鳥海 弥和
東京大学大学院総合文化研究科相関基礎科学
-
赤尾 賢一
日本分光
-
田所 利康
有限会社テクノ・シナジー
-
奥谷 聡
長岡技科大・工
-
赤羽 正志
長岡技科大
-
木村 宗弘
長岡技科大
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