A Measurement of Induced Charge in C_nTCNQ Langmuir-Blodgett Films Sandwiched between Aluminum Electrodes : Electrical Properties of Condensed Matter

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概要

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• Electrical properties of C_nTCNQ Langmuir-Blodgett films sandwiched between aluminum electrodes are studied using thermally stimulated electrical measurements, and both the effect of film structure and the influence of native aluminum oxide are stressed. A change in induced charges on an electrode (Δq_2) is measured while heating a sample. The relation between Δq_2 and the number of deposited layers is in good agreement with a simple model based on a double-layered dielectric system. The direction of polarization in a film as deposited is also investigated using a photo-induced current measurement.

• 社団法人応用物理学会の論文
• 1988-07-20

著者

• Iwamoto Mitsumasa

  Dept. Of Phys. Elec Tokyo Tech.

• Nakano Kazuhito

  Dept. Of Electrical And Electronic Engineering Faculty Of Engineering Tokyo Institute Of Technology

• Iwamoto Mitsumasa

  Dept. Of Electrical And Electronic Engineering Faculty Of Engineering Tokyo Institute Of Technology

• Iwamoto Mitsumasa

  Dept. Of Electrical & Erectronic Engineering Faculty Of Engineering Tokyo Institute Of Technolog

• Iwamoto Mitsumasa

  Dept. Of Electrical & Electronic Engineering Tokyo Institute Of Technology

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