熱刺激電流により観察したペロブスカイト酸化物における酸素空位挙動
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概要
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チタン酸バリウムを代表とするぺ口ブスカイト酸化物セラミックスにおいては経時変化や信頼性などに空間電荷(酸素空位)が大きな影響をおよぼす。空間電荷挙動を系統的に調べるためにSrを固溶して室温以下にキュリー点を低下させたチタン酸バリウムストロンチウムセラミックスを中心に熱刺激電流を通じてNiをドープしたセラミックスの特性を評価した。その結果、粒界にあって双極子的性質を有する電荷や酸素空位のマイグレーションにともなう電流を明瞭に観察することができ、さらには熱刺激電流に基づいてこの系において観察される超低周波誘電緩和現象や異常伝導電流の機構を解明することができた。
- 2002-06-28
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