近接場光学顕微鏡による量子ナノ構造の極微小領域光物性の観測
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概要
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選択成長による量子細線、量子ドットに対して、空間分解フォトルミネッセンス(PL)観測を近接場光学顕微鏡を用いて行った。波長分解した近接場光学像から異なる構造からの発光であることを同定し、ドット構造における有効捕獲領域を300nmと見積もった。さらに自己形成型量子ドットのPL空間分布を観測し、異なる発光領域を持つことを確認した。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1996-10-08
著者
-
荒川 泰彦
東京大学生産技術研究所ナノエレクトロニクス連携研究センター
-
荒川 泰彦
東京大学ナノ量子情報エレクトロニクス研究機構
-
荒川 太郎
東京大学生産技術研究所
-
大津 元一
東京工業大学
-
荒川 泰彦
東京大学生産技術研究所
-
永宗 靖
東京大学生産技術研究所
-
北村 雅季
東京大学ナノ量子情報エレクトロニクス研究機構
-
戸田 泰則
東京大学生産技術研究所
-
篠森 重樹
東京大学生産技術研究所
-
北村 雅季
東京大学生産技術研究所
-
戸田 泰則
北海道大学 大学院工:科学技術振興機構
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