一回選択MOCVD法により成長した量子井戸構造の評価 : シュタルク効果の測定
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概要
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一回選択MOCVD法により成長した量子井戸構造を評価するために,単一量子井戸を導波路に含むGRIN-SCH構造の半導体レーザアレイを作成し,光電効果(量子閉じ込めシュタルク効果)による屈折率変化と透過率変化の測定,及び,比較検討を行った.また,ステップ可変光周波数掃引器を用いた実効群屈折率定法を提案し実験を行った.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1994-05-19
著者
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