パラメータ抽出用のデータ数削減手法とその応用(プロセス・デバイス・回路シミュレーション及び一般)
スポンサーリンク
概要
- 論文の詳細を見る
パラメータ抽出計算に用いるデータのうちデータ曲線の特徴をあらわすものを自動的に取り出す,データ数削減手法を考案した.この手法を非線形最小2乗法と遺伝的アルゴリズムを組み合わせるパラメータ抽出法に実装し,MOSFETのI-V特性に適用した.その結果,データ数が減った分抽出の高速化が可能になり,精度低下も小さいことがわかった.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2003-09-22
著者
-
寺田 和夫
広島市大学院情報科学研究科
-
寺田 和夫
広島市立大学大学院情報科学研究科
-
佐藤 修平
広島市立大学大学院情報科学研究科
-
寺内 衛
広島市立大学情報科学部
-
寺田 和夫
広島市立大学
-
寺内 衛
広島市立大学大学院情報科学研究科
-
寺内 衛
広島工業大学情報学部
関連論文
- 依頼講演 「電流立上り電圧」ばらつきに起因する微細MOSトランジスタのランダム電流ばらつきの解析 (集積回路)
- C-11-4 しきい値電圧ばらつきに対するハロー構造の影響(C-11.シリコン材料・デバイス,一般セッション)
- C-10-5 しきい値電圧バラツキのチャネル寸法依存性(C-10. 電子デバイス,一般セッション)
- C-11-4 コンダクタンス測定によるDDDMOSFETのパラメータ抽出(C-11.シリコン材料・デバイス,一般講演)
- パラメータ抽出用のデータ数削減手法とその応用(プロセス・デバイス・回路・シミュレーション及び一般)
- パラメータ抽出用のデータ数削減手法とその応用(プロセス・デバイス・回路シミュレーション及び一般)
- C-11-3 MOSFET しきい値電圧ばらつき評価用試験回路
- 遺伝的アルゴリズムを用いた,パラメータ抽出におけるグルーピング : BSIM3v3のモデルパラメータ抽出(プロセス・デバイス・回路シミュレーション及び一般)
- 'SBB'SOI MOSFETの設計指針とその性能予測
- 'SBB' SOI MOSFETの設計指針とその性能予測