C-11-4 コンダクタンス測定によるDDDMOSFETのパラメータ抽出(C-11.シリコン材料・デバイス,一般講演)
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概要
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- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2006-09-07
著者
-
寺田 和夫
広島市大学院情報科学研究科
-
辻 勝弘
広島市大学院情報科学研究科
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辻 勝弘
広島市立大学大学院情報科学研究科
-
寺田 和夫
広島市立大学大学院情報科学研究科
-
梅田 亮
和歌山大学大学院システム工学研究科
-
梅田 亮
広島市立大学 情報科学部
-
寺田 和夫
広島市立大学
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